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    YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試

    發(fā)布時(shí)間: 2016-04-15  作者:上海洪富儀器儀表有限公司 來(lái)源:上海洪富儀器儀表有限公司  點(diǎn)擊次數(shù): 次

    YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試

    特點(diǎn)
    此手持式儀器測(cè)量氧化膜的導(dǎo)納(Y),符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 標(biāo)準(zhǔn)。 測(cè)量范圍為 3 – 200 μS,測(cè)量槽直徑為 13 mm
    通過(guò)可選的電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)儀器
    YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試
     

    上海洪富儀器儀表有限公司

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    典型應(yīng)用領(lǐng)域

    該儀器極適合快速簡(jiǎn)便的對(duì)鋁材上的陽(yáng)極氧化膜密閉性進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 涂層的耐氣候性取決于導(dǎo)納(Y)


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